摘要:针对现有的二进制全光全加器所需微环谐振器(MRR)数量较多的问题,首次提出了 3 个 MRR 串联结构的全光全加 器。 针对 MRR 对温度的波动和制程偏差非常敏感,容易产生故障,建立了 MRR 故障模型,设计了全光全加器(OFA)的可靠性 指标平均误差距离,分析了 MRR 单故障模型对 OFA 性能的影响。 插入损耗(insertion loss, IL)的实验结果表明,提出的 OFA 结 构总体上优于现有的 OFA 结构;相比现有的方案,提出的 OFA 结构的 MRR 硬件开销最多减少 70% ,最少减少 50% ;平均误差 距离的实验结果表明,方案 1 和方案 2 的平均误差距离较大,本文提出方案的平均误差距离适中;多位二进制全加器中,最高位 在单故障模型下的,平均误差距离的绝对值均随着多位二进制全加器的位数增加而增大;最低位在单故障模型下的,平均误差 距离的绝对值均随着多位二进制全加器的位数增加保持不变;实物验证和基于 Modelsim 平台的实验验证了 MRR 故障对全加 器的性能影响的正确性。